上文小编给大家介绍了关于什么是集成电路ic芯片CDM测试，那大家知道有哪些因素会影响CDM测试的结果吗
1、湿度对于测试结果的影响
在日常测试中我们发现，湿度对于测试结果起到了决定性的因素，目前大多数CDM测试我们都参考JS002的标准，标准中要求测试腔体的湿度不应超过30% RH。我们分别实验了在腔体58％RH和5％RH两个湿度条件下各抓取20次放电波形来做了对比，发现湿度在58％RH的测试条件下放电波形的重复性较差且放电的峰值电流也相应降低，湿度在5％的测试条件下抓取的放电波形重复性较好，同等电压下峰值电流也更高；我们增加了35％RH和10％RH这两个不同湿度的峰值电流对比，在10％RH的条件下峰值电流也更高。
2、测试标准
CDM测试标准没有统一之前，测试标准较多，如JESD22-C101、AEC Q100-011，ANSI/ESD S5.3.1-2009等。不同的测试标准对于放电波形的要求不同，主要差异包括：场板电介质厚度，波形验证参数，用于验证系统的验证模块，示波器带宽等，导致测试结果无法对齐。为解决这一问题，目前行业标准已经统一硬件规则，现在测试CDM的放电波形行业多数参考JS-002标准。
3、接触电阻
由于样品放置时间长，引脚表面会形成氧化、沾污，此外Pogo Pin 因静电吸附等沾染毛絮、灰尘颗粒都会影响接触放电。如条件允许，建议使用前对样品及Test Fixture进行清洁(一般是异丙醇)后测试，但是，这又会涉及到不同有机溶剂对样品材料的腐蚀与置换溶解问题，需要小心处理。
以上三点只是影响集成电路ic芯片CDM测试结果的部分因素，如果您还想了解更详细的内容，欢迎关注瑞泰威科技官网，小编将继续给大家带来更详细的内容
