随着集成电路ic国产化替代的兴起，企业对IC的特性要求也越来越高。电路的防护尤为重要，静电放电对IC的损伤不可忽视。因此针对集成电路进行CDM测试必不可少，那什么是集成电路ic芯片CDM呢，一起往下看
CDM(Charged Device Model)是指放电模式中IC因为磨擦输送带或其它因素而经过一个电场时在IC内部累积了静电，但在静电累积的过程中IC并未被损伤。该带有静电的IC在制造和装配过程中，当其管脚碰触到地面时，IC内部的静电便会经由样品的管脚自IC内部流出来，而造成了放电的现象。
不同于HBM（Human-Body Model）和MM（Machine Model），它是由内到外的放电现象，CDM 模型的放电电流上升时间极短，电流峰值也更高。
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